دستگاه طیف سنج فلورسانس ایکس ری سری EDX-LE شیمادزو

اطلاع از موجودی

EDX-LE یک دستگاه طیف سنج فلورسانس پراش انرژی اشعه ایکس (energy dispersive X-ray fluorescence spectrometer) است که به طور خاص برای غربالگری عناصر طبقه بندی شده توسط دستورالعمل های RoHS/ELV طراحی شده است. EDX-LE با نرم افزارهای مختلف و تنظیمات خودکار، آنالیز عناصر را با عملیاتی آسان، سریع و حساسیت بالا انجام می دهد.

توضیحات

دستگاه طیف سنج شیمادزو فلورسانس

دستگاه EDX-LE از تجهیزات آنالیتیکال آزمایشگاهی با روش های ساده، انجام عملیات را حتی برای کاربرانی که مبتدی هستند تضمین می کند. دستگاه طیف سنج فلورسانس ایکس ری سری EDX-LE با ارائه توابع خاص مورد نیاز برای غربالگری 5 عنصر طبقه بندی شده توسط RoHS و غربالگری آسان با دقت و حساسیت بالا بسیار مفید است. دستگاه EDXRF مدل EDX-LE به صورت خودکار جزء اصلی ترکیب را تعیین می کند، منحنی کالیبراسیون بهینه را انتخاب کرده و اندازه گیری را انجام می دهد و از این رو نیازی به تصمیم گیری کاربر ندارد.

 

دستگاه های مشابه: دستگاه فلورسانس ایکس ری سری EDX-7000/8000/8100 شیمادزو

 

ویژگی های دستگاه اسپکترومتر فلوئورسانس اشعه ایکس سری EDX-LE یا دستگاه طیف سنج شیمادزو

  • غربالگری همزمان و غیر مخرب
  • عملیات آسان از طریق پنجره [Screening Analysis]
  • تمام مراحل، از ارزیابی ترکیبات اصلی تا انتخاب شرایط به صورت خودکار تنظیم می شوند.
  • آنالیز خودکار، عملکرد دستگاه را بدون از دست رفتن قابلیت اطمینان بهبود می بخشد.
  • دارای یک آشکارساز نیمه هادی (Si-PIN) است که نیازی به نیتروزن مایع برای خنک کردن ندارد.
  • صرفه جویی در نیروی کار و غربالگری با سرعت بالا
  • هزینه عملیاتی کمتر و تعمیر و نگهداری آسان
  • توابع مورد نیاز برای آنالیز RoHS/ELV به عنوان استاندارد ارائه می شوند.
  • علی رغم بدنه کم حجم مجهز به یک محفظه بزرگ نمونه است که قادر به اندازه گیری نمونه های بزرگ تا W370 mm×D320 mm×H155 mm می باشد.
  • دستگاه EDX-LE از روش استاندارد داخلی BG برای حذف اثر شکل و ضخامت نمونه در شدت فلورسانس X-ray به منظور ارائه نتایج بسیار دقیق استفاده می کند.
  • اگر نمونه مورد آزمایش کوچک باشد یا در مواقعی که ناحیه مشخصی از نمونه اندازه گیری می شود، می توان از کولیماتور برای تغییر ناحیه تماس نمونه با اشعه ایکس استفاده کرد.

مراحل ساده آنالیز با EDX-LE یا دستگاه طیف سنج شیمادزو

مرحله اول: قرار دادن نمونه و مشاهده آن توسط دوربین نظاره گر نمونه که موقعیت آنالیز نمونه را تأیید می کند. ناحیه آنالیز تا قطر 3، 5 و یا 10 میلی متر می تواند تنظیم شود.

مرحله دوم: انتخاب شرایط آنالیز و وارد کردن نام نمونه با استفاده از پنجره [Measurement Preparation] که تصویر نمونه جاری را نمایش می دهد.

مرحله سوم: پس از تکمیل اندازه گیری، [Pass/Fail Judgment] ،[Concentration] و [(3σ(Measurement Variance] برای همه 5 عنصر در یک طبقه بندی با مفهوم آسان نمایش داده می شود. در نهایت فهرست نتایج و گزارش منحصر به فرد تنها با یک کلیک نمایش می یابد.

دستگاه طیف سنج فلوئورسانس ایکس ری سری EDX-LE با طراحی همه جانبه شامل همه توابع مورد نیاز برای غربالگری می باشد. روش FP برای آنالیز بعضی عناصر RoSH در نمونه های فلزی و روش منحنی کالیبراسیون و نمونه استاندارد به منظور بهبود اطمینان نتایج آنالیز، برای عناصر مشخص شده توسط دستورالعمل RoSH/ELV مورد استفاده قرار می گیرد.

 

Weight Approx. 60 kg
Dimensions W 520 mm × D 650 mm × H 420 mm
Permitted Ambient Temperature 5°C to 35°C
Permitted Ambient Temperature 40% to 70%
Measurement Sample Type liquids, powder, Solids
Max Sample Size W 370 mm × D 320 mm × H 155 mm
Analysis Range Al to U
X-Ray Tube Rh target
X-Ray Filter Automatic switching between: 5 types + OPEN
Cooling Method Air cooling (with fan)
Detector Si-PIN semiconductor
Computer IBM-PC/AT
Operating System Windows 7

نقد و بررسی‌ها

هیچ دیدگاهی برای این محصول نوشته نشده است.

اولین کسی باشید که دیدگاهی می نویسد “دستگاه طیف سنج فلورسانس ایکس ری سری EDX-LE شیمادزو”

نشانی ایمیل شما منتشر نخواهد شد. بخش‌های موردنیاز علامت‌گذاری شده‌اند *

بالا